담당자 일정으로 인하여 분석가능한 시간을 참고하시어 신청하시기 바랍니다.

분석가능시간 09:00~15:30이며, 16:00 이후에는 분석이 어려운 점 양해부탁드립니다.

16:00 이후 분석의뢰를 할 경우 담당자가 통보없이 일정을 변경하거나 취소할 수 있습니다.

가능한 예약 시간을 지켜 주시기 바랍니다.

기기 신청시 유의사항

1. 본 기관에는 전처리 장비가 존재하지 않아 성분분석 시 전처리를 직접 해오셔야 합니다.

담당자(062-530-1373)와 상의 후 샘플 홀더 규격에 맞는 전처리를 해오시기 바랍니다.

2. 고체 시료만 분석 가능합니다. (분말 형태는 담당자와 상의 후 결정)

3. SXES 분석은 현재 지원이 안되며 가능하면 추후 공지하겠습니다.

샘플회수를 원하실 경우, 직접 방문하여 수령하시는 경우와 택배(착불)로 수령하시는 경우가 있습니다.

수십, 수백nm 단위의 Image를 구현하면서 관찰부위의 정성, 정량 및 Mapping을 구현하여 최근 나노미터 단위의 Image 관찰과 분석이

가능하게 되어 금속, 재료, 세라믹, 지질, 전지 등 다방면에서 사용되는 필수적인 장비이며 Soft X-ray라는 장비를 사용하여 경원소 분석에 보다 더 정밀한 결과를 낼 수 있는 System이다.

- SEM image resolution: 3 nm (WD=11mm, 30kV)

- WDS : 4 Channels (elements : 5B to 92U)

- EDS : 1 Channel (elements : 5B to 92 U)

- SXES : 2 Grattings (JS50XL: Li, etc 50‐170eV / JS200N： Trace B,C,N, etc detection. 70‐210eV)

SEI resolution :

- 3.0 nm at 10 pA, 30 kV

- 20 nm at 10 nA, 10 kV

- 50 nm at 100 nA, 10 kV

X-ray analysis range(WDS) : 0.087 to 17 nm

Maximum specimen size : 100 mm ×100 mm × 50 mm (H)