FIB(집속이온빔 전자현미경) 세미나 안내

전남대학교 공동실험실습관에서 집속이온빔 전자현미경 [FIB; Focused Ion Beam Electron Microscope]에 관한 세미나를 개최합니다. 이번 세미나는 공동실험실습관에서 올해 신규도입 예정인 FIB 기기에 대한 기본 원리 및 응용 방법에 관한 것입니다.
집속이온빔(Focused Ion Beam, FIB)가공은 현미경에 의한 재료관찰 분야에서 크게 공헌해온 기술이며, 주사전자현미경(SEM)의 단면관찰용 시료제작과 TEM 단면관찰시료의 제작에 효과적으로 사용되고 있습니다. FIB는 서로 다른 종류의 여러 재료를 균일한 두께로 연마할 수 있고 신속하게 시료를 제작할 수 있습니다. 최근에는 나노기술의 발전과 함께 3차원 나노구조의 형성, 복잡한 미세가공, 마이크로/나노사이즈의 미세입자 가공, 현미경시료 마무리 가공, 고 종횡비 가공, 반도체배선수정, 마이크로 정밀금형 가공 등 가공프로세스에 폭 넓게 응용되고 있습니다. FIB의 기본원리 및 활용 방법에 대해 알 수 있는 좋은 기회라고 생각되오니 관심 있는 분들의 많은 참석을 부탁드립니다.

공동실험실습관 관장 김형진

교육 내용
◆ 일시
2016년 4월 27일 (수) 14:00~18:00
◆ 장소
전남대학교 공동실험실습관 세미나실(2층)
◆ 참가 인원
이론 30명(효과적인 장비이용 교육을 위해 등록인원의 제한)
실습 10명 이내
◆ 교육문의 및 담당자
이광호(062-530-2096)
◆ 참가신청: 참가신청서 작성 후 펙스(062-530-1375)나
이메일(wood21c@jnu.ac.kr)로 접수바랍니다.
◆ 기타 자세한 내용은 첨부파일 및 전남대학교 공동실험실습관 홈페이지 (http://jcrf.jnu.ac.kr/gwangjur)를 참조하십시오.